分析方法能量色散X熒光分析方法
測量元素范圍鎂（Mg）到鈾（U）之間的元素均可測量
同時檢測元素數(shù)幾十種元素可同時分析
處理器和內(nèi)存CPU：667MHz,內(nèi)存：256M，擴(kuò)展存儲最大支持32G，標(biāo)配2G，可以海量存儲數(shù)據(jù)
含量范圍ppm～99.99%
檢測時間3-30秒
GPS、WIFI內(nèi)置系統(tǒng)
檢測對象固體、液體、粉末
探測器25mm2 0.3mil，SDD探測器
探測器分辨率最低可達(dá)139eV
激發(fā)源40KV/100uA-銀靶端窗一體化微型X光管及高壓電源
視頻系統(tǒng)高清晰攝像頭
顯示屏半透半反式液晶顯示觸摸屏，其分辨率是640*480
檢出限最低檢出限達(dá)ppm級
安全性自帶密碼管理員模式，數(shù)據(jù)可隨意保存
可充氣系統(tǒng)常壓充氦氣系統(tǒng)
數(shù)據(jù)傳輸數(shù)字多道技術(shù)，SPI數(shù)據(jù)傳輸，分析，高計數(shù)率
操作環(huán)境濕度≤90%
儀器外形尺寸234×306×82mm（L×H×W）
儀器重量1.9Kg（配備電池），1.6Kg（無電池）
手持式x熒光光譜儀 產(chǎn)品特點 1、輕小、便攜 2、完全無損 3、用戶界面簡捷、明了 4、中文操作界面（12種以上語言供選） 5、檢測速度快 6、分析精度高 7、存儲空間大 8、數(shù)據(jù)傳輸方便，快捷 9、減震、防水、抗壓儀器箱
手持式光譜儀是一種基于XRF光譜分析技術(shù)的光譜分析儀器，當(dāng)能量高于原子內(nèi)層電子結(jié)合能的高能X射線與原子發(fā)生碰撞時,驅(qū)逐一個內(nèi)層電子從而出現(xiàn)一個空穴,使整個原子體系處于不穩(wěn)定的狀態(tài),當(dāng)較外層的電子躍遷到空穴時,產(chǎn)生一次光電子，擊出的光子可能再次被吸收而逐出較外層的另一個次級光電子，發(fā)生俄歇效應(yīng),亦稱次級光電效應(yīng)或無效應(yīng)。所逐出的次級光電子稱為俄歇電子。當(dāng)較外層的電子躍入內(nèi)層空穴所釋放的能量不被原子內(nèi)吸收,而是以光子形式放出,便產(chǎn)生X 射線熒光，其能量等于兩能級之間的能量差。因此，射線熒光的能量或波長是特征性的,與元素有一一對應(yīng)的關(guān)系。由Moseley定律可知，只要測出熒光X射線的波長,可以知道元素的種類,這是熒光X射線定性分析的基礎(chǔ)。此外,熒光X射線的強(qiáng)度與相應(yīng)元素的含量有一定的關(guān)系,據(jù)此,可以進(jìn)行元素定量分析。X射線探測器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號轉(zhuǎn)換成易于測量的電信號來得到待測元素的特息。
技術(shù)參數(shù)： 重量： 1.6kg 尺寸： 30cm（L） x 10cm（W） x 28cm（H） 激發(fā)源： X射線管，Ag靶，40kV 檢測器： SI-PIN檢測器 操作系統(tǒng)：HP掌上電腦：Windows 5.0 Bruker 軟件 冷卻系統(tǒng)：Peltier 半導(dǎo)體冷卻系統(tǒng) 電源： 交、直流供電;充電鋰電池 工作條件：溫度：-20 ℃ ～ 55 ℃ 濕度：0～95%
手持式光譜儀如何正確使用 手持式光譜儀在使用的時候，對環(huán)境有一定的要求。不要在潮濕的環(huán)境下工作，環(huán)境濕度0-95%之間為好；不能在高溫下操作工作。這樣，避免各類磁場的干擾，儀器分析的時候才能檢測出更高的精度。所以，大家在工作時候要注意環(huán)境適度，很多時候儀器檢測不標(biāo)準(zhǔn)跟環(huán)境有很大程度上的關(guān)系。 手持式光譜儀對于操作人員有一定要求。測試樣品前，一定要請儀器廠商人員現(xiàn)場演示，并且對技術(shù)人員做操作前的培訓(xùn)。因為這款儀器是檢測元素，那么一定會要做放樣檢測，所以，技術(shù)人員還需要做好防。 對手持式光譜儀操作的技術(shù)人員，在使用儀器檢測樣品的時候，先要把儀器前方的圓孔對準(zhǔn)需要檢測樣品的點，儀器要貼在上面，在扣動開始檢測的時候，技術(shù)人員的手一定不能抖動，否則會影響到檢測的數(shù)據(jù)結(jié)果。 對于檢測的樣品也有要求。被測的物品表面必須保持整潔，才能避免其他元素的干擾。被測物品的表面有油污，或重金屬污染，檢測出來的結(jié)果度沒那么高。 手持式光譜儀的操作看起來很復(fù)雜，只需按照技術(shù)人員的指示一步步操作，沒你想的那么復(fù)雜了。
手持式分析儀 探測器：13mm2 電致冷Si-PIN探測器 激發(fā)源：40KV/50uA-銀端窗一體化微型X光管 檢測時間：10-200秒（可手持式或座立式測試） 檢測對象：固體、液體、粉末 檢測范圍：硫(S)到鈾(U)之間所有元素 可同時分析元素：多至26個元素 元素檢出限：0.001%～0.01% 校正方式： 銀(Ag) 性：自帶模式，非授權(quán)人員無法使用 Data使用性：可在PDA內(nèi)進(jìn)行編輯，可導(dǎo)入PC機(jī)進(jìn)行 保存打印，配備海量存儲卡 電 源： 兩塊鋰電池滿電可連續(xù)工作8小時
手持式光譜儀系統(tǒng)誤差的來源有： (1)標(biāo)樣和試樣中的含量和化學(xué)組成不完全相同時，可能引起基體線和分析線的強(qiáng)度改變，從而引入誤差。 (2)標(biāo)樣和試樣的物理性能不完全相同時，激發(fā)的特征譜線會有差別從而產(chǎn)生系統(tǒng)誤差。 (3)澆注狀態(tài)的鋼樣與經(jīng)過退火、淬火、回火、熱軋、鍛壓狀態(tài)的鋼樣金屬組織結(jié)構(gòu)不相同時，測出的數(shù)據(jù)會有所差別。 (4)未知元素譜線的重疊干擾。如熔煉過程中加入脫氧劑、除硫磷劑時，混入未知合金元素而引入系統(tǒng)誤差。 (5)要系統(tǒng)誤差，必須嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)樣品制備規(guī)定要求。為了檢查系統(tǒng)誤差，需要采用化學(xué)分析方法分析多次校對結(jié)果。
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