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鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強(qiáng)度來。測量鍍層等金屬薄膜的厚度，因?yàn)闆]有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有4互萬控領(lǐng)笑程肉5-75W左右，所以不會對樣品造成損壞。同時，測量的也可以在10秒到幾分鐘內(nèi)完成。以下情況可以豁免X熒光光譜儀的輻射安全管理:豁免X熒光光譜儀的型號和規(guī)格符合國家相關(guān)規(guī)來自定，已經(jīng)獲得了豁免證書，并且在使用時嚴(yán)格按照溶象漸趕廠家提供的操作規(guī)程進(jìn)行?；砻釾360問答熒光光譜儀的輻射水平符合國家相關(guān)規(guī)定，經(jīng)過檢測證明其輻射劑量低于國家限值。豁免X熒光光譜儀的使用地。
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